近日,半导体光电子器件国家及行业标准审查会议在浙江省杭州市临平区召开。由厦门市产品质量监督检验院主导制定的国家标准GB/T 15651.8-XX《半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法》经专家组严格评审,顺利通过审查。 会上,厦门市产品质量监督检验院光学室主任葛莉荭作为标准编制负责人,以详实的数据和严谨的逻辑,系统阐述了标准研制背景、技术框架及关键指标。她重点围绕当前半导体光电子器件光电效率测试领域存在的技术空白与行业痛点,详细介绍了标准制定过程中创新性提出的测试方法与技术参数,以及该标准对产业规范化发展的重要意义。专家组对标准文本进行逐条审议,围绕核心技术参数、测试方法规范等内容展开深度研讨,一致认为该标准技术先进、逻辑严谨、实操性强,在填补行业空白方面具有重要价值,同意通过审查,并要求编制组按意见完善后尽快形成报批稿。 作为新一代信息技术的核心基石,半导体光电子器件不仅是全球科技竞争的战略高地,更是我国突破技术瓶颈、实现高水平科技自立自强的关键赛道。GB/T 15651系列标准作为该领域的重要技术规范,全面覆盖光电子器件的基础要求、性能测试及质量保障体系。继我院牵头制定并发布实施的GB/T 15651.7-2024《半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管》后,本次通过审查的GB/T 15651.8-XX标准,聚焦单个发光二极管(LED)芯片及无荧光粉封装器件的光电效率测试,其发布实施将为行业建立统一规范的检测方法,有力推动我国光电产业标准化进程,提升产业核心竞争力。 近年来,厦门市产品质量监督检验院融入国家科技创新战略,以标准研制参与全球技术治理。牵头主导半导体光电子器件等核心领域国际、国家及行业标准建设,推动前沿技术成果标准化,助力我国在全球光电产业竞争中掌握话语权。未来,厦门市产品质量监督检验院将持续发挥技术专长,以高标准推动高质量发展,助力我国光电产业突破技术瓶颈,抢占全球半导体光电子器件技术制高点。(通讯员:王晶晶) |